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多年以來(lái),HORIBA銷(xiāo)售的EDXRF分析儀和XGT-WR系列為客戶提供RoHS,ELV和無(wú)鹵檢測(cè),對(duì)含有害元素如Pb,Cd,Hg,Br,Cr,Cl,As,Sb等的樣品進(jìn)行篩選式測(cè)量,如今在世界范圍內(nèi)廣泛使用?;诖罅靠蛻舻囊?,HORIBA憑借長(zhǎng)期的經(jīng)驗(yàn)開(kāi)發(fā)出全新的EDXRF分析裝置MESA-50 。它將為您提供友好的操作界面和優(yōu)異的使用性能。MESA-50具有三種尺寸的準(zhǔn)直器可用于各種
一代的X射線熒光分析顯微鏡XGT-7000開(kāi)創(chuàng)了科學(xué)分析的新時(shí)代。它將光學(xué)圖像與元素分析*地結(jié)合,為科研工作者的研究和分析提供了新的分析手段。 SDD檢測(cè)器保證了高速、高精度元素面掃描;高能量分辨率,高計(jì)數(shù)率的測(cè)量,且無(wú)需液氮。 雙真空式設(shè)計(jì)確保用戶可以在幾秒鐘內(nèi)完成樣品室內(nèi)部氛圍的切換(大氣或真空)。即使測(cè)量含水樣品、生物樣品時(shí)也可以保證測(cè)量所有元素的高靈敏
全系列拉曼光譜技術(shù),專業(yè)級(jí)解決方案。Horiba jobin YTvon 獲得美國(guó)宇航局nasa頒發(fā)宇宙起源攝譜儀光柵接觸貢獻(xiàn)獎(jiǎng)。Horiba旗下分析儀器產(chǎn)線正式合并成立horiba科學(xué)儀器事業(yè)部,并啟用新Jobin Yvon光譜技術(shù)標(biāo)示自此Hoiriba可為用戶提供從真空紫外到近紅外范圍測(cè)量的解決方案。
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*功能分析評(píng)估材料結(jié)構(gòu)性能,符合材料設(shè)涉及力,熱,聲,光,電功能的材料,他們?cè)谏茖W(xué),納米,傳感器,只能設(shè)備及其前前沿交叉應(yīng)用中發(fā)揮著日益重要的作用,horibaXploRA Nano&Nanolog等代表性儀器,可以為這些材料的結(jié)構(gòu)性能研究提供的設(shè)備和分析應(yīng)用開(kāi)發(fā)。